JK2000X系列 晶体管电性测试系统
关键词：静态参数以及IV曲线、MOS管测试仪
产品描述：是由我公司技术团队结合半导体功率器件测试的多年经验，以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后，完全自主开发设计的全新一代“晶体管电性测试系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完善和不断的提升。能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器
